电容器是一种能够储藏电荷的元件,也是常用的电子元件之一,在通讯设备、医疗设备、汽车电子和航空、航天等领域都有着广泛的应用,随着信息技术和电子设备的快速发展,电容器需求也呈现出整体上升态势。
根据材质不同,电容器产品主要可分为钽电容器、铝电容器、陶瓷电容器和薄膜电容器等。随电容器需求扩张和材质类别的拓展,为进一步推动电容器检测技术的不断提高与创新,要对电容器进行严谨的失效分析。
电容器因其使用的材料及其结构不同分为不同的类型:钽电容器、陶瓷电容器、铝电容器等。每种电容器因其提供的特性而具有特殊的应用。如同三明治一样,简单的电容器是把一个绝缘体材料夹在两个导体之间,通过导体施加偏置电压。
在进行破坏性分析之前,有必要在损坏电容器的条件下尽可能多的获取有关电容器的物理和电性能的数据。无损检验技术的结果将有助于确定一条能查明导致电容器失效根本原因的途径。X光作为一种经常使用的无损检测技术可以检查电容器的内部结构及其任何异常状态(阳极未对准,弱正极或是负极接触等)。随着X光分辨率的改善和计算机运行速度加快,X射线无损检测设备成为了分析电容器内部结构的一种有益的工具。
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