IC芯片X射线数字成像检测系统

IC芯片X射线数字成像检测系统产品介绍：

IC芯片X射线数字成像检测系统X光无损检测技术通过物体对X-RAY材料的吸收差异，对物体内部结构进行成像，然后进行内部缺陷检测，在工业探伤、检测、医疗检测、安全检测等领域得到广泛应用。

目前常用的晶片检测方法是将晶片层层剥开，再用电子显微镜拍摄每一层表面，这种检测方式对晶片有很大破坏，此时，X射线无损检测技术或许能助一臂之力。电子器件X射线检测仪主要是利用X射线照射芯片内部，由于X射线的穿透力非常强，能够穿透芯片后成像，其内部结构的断裂情况可以清楚地显示出来，用X射线对芯片进行检测的最主要特点是对芯片本身没有损伤，因此这种检测方式也叫无损探伤。

X射线检查设备可用于检查过程，明智的做法是在PCB组装生产的整个过程中以及在批量生产的开始，中间和结束时随机选择几个样品。通过检查，您可以发现所生产的PCB组件内部是否存在质量缺陷。

另一种选择是使用在线X射线检查设备与PCB组装生产线连接以减少生产线末端的手动检查，例如无法通过AOI进行全面检查的细间距设备或其他BGA检查方法。在线X射线检查设备检查面积大，分辨率高，放大倍数高，具有崭新优良的检查效果。它可以在生产和组装过程中检测出PCB组件和无铅设备（特别是BGA）的质量问题。

日联科技经过十年发展，日联科技已在无锡国家高新区自建4万余平米的现代化工厂和研发制造中心，并在深圳、重庆两地建有全资子公司（工厂），在北京、沈阳、天津、西安、郑州、成都、武汉、青岛、宁波、广州、柳州、厦门、昆明、乌鲁木齐等地设有办事处。公司与美洲（美国、墨西哥、巴西、阿根廷）、欧洲（英国、德国、意大利、俄罗斯）、亚洲（东南亚、日韩、中东、土耳其）、澳大利亚、南非等全球多地代理商和分销商合作，建立了销售和服务网点。产品已出口到60余个国家及地区。

X-RAY检测设备中有一个最核心的部件，那就是X射线管，目前X射线管是由日本滨松生产的。通过X射线管的原理知道，它可以透过工件对检测体的内部进行观察。选择可倾斜60度观测，载物台可360度旋转，采用彩色图像导航，精准检测被测物体。

架构是支撑X-ray射线检测仪的主要部分。这一部分决定了X-ray射线检测仪的测量行程以及使用的便捷性等。X-ray射线检测仪按用户需求*的体验而设计的，用户操作实际使用非常方便。

产品特点： ●设备具备高性价比，支持灵活选配增强器和高清FPD●系统拥有600X放大倍率，可实现高清实时成像●用户界面友好，功能多样，支持结果图示化 ●支持选配CNC高速跑位自动测算功能

产品应用：●pcba焊点检测（BGA 、CSP 、POP等元器件检测）●电池（极片焊点缺陷检测、电芯绕卷情况检测）●电子接插件（线束、线缆、插头等）●汽车电子（接插线、仪表盘等检测）●太阳能、光伏（硅片焊点检测）●半导体（封装元器件检测）●LED检测●电子模组检测●陶瓷制品检测

标准配置●4/2（选配6寸）像增强器和百万像素数字相机；●90KV5微米的X射线源；●简单的鼠标点击操作编写检测程序；●检测重复精度高；●正负60度旋转倾斜，允许*视角检测样；●高性能的载物台控制；●超大导航视窗-容易定位和识别不良品；●自动BGA检测程序准确检测每一个BGA的气泡，根据客户需求进行判定并输出Excel报表。