BGA、半导体、二极管缺陷X-RAY检测设备

BGA、半导体、二极管缺陷X-RAY检测设备介绍：

BGA、半导体、二极管缺陷X-RAY检测设备应用于倒装芯片检测，半导体、封装元器件、锂电行业，电子元器件、汽车零部件、光伏行业，铝压铸模铸件、模压塑料，陶瓷制品等特殊行业的检测。

随着芯片高密度封装技术的发展，给测试技术带来了新的挑战与机遇。

为了更好的应对，市面上出现了多次技术创新更迭，而X-RAY检测技术就是其中之一。

X-RAY检测是利用X射线穿透原理与探测器接收光斑明暗不一的原理共同协作，达到检测产品内部缺陷的目的。

FOL- Wire Bonding引线焊接

Capillary:陶瓷劈刀。W/B 工艺中最核心的-个Bonding Tool,内部头空心，中间穿上金线，并分别在芯片的Pad和Lead Frame的Lead上形成第一-和第二焊点:

EFO:打火杆。用于在形成第一焊点时的烧球。打火杆打火形成高温，将外露于Capillary前端的金线高温熔化成球形，以便在Pad上形成第一焊点(Bond Ball) ;

产品应用：
● pcba焊点检测（BGA 、CSP 、POP等元器件检测）
● 电池（极片焊点缺陷检测、电芯绕卷情况检测）
● 电子接插件（线束、线缆、插头等）
● 汽车电子（接插线、仪表盘等检测）
● 太阳能、光伏（硅片焊点检测）
● 半导体（封装元器件检测）
● LED检测
● 电子模组检测
● 陶瓷制品检测

标准配置：
● 4/2（选配6寸）像增强器和百万像素数字相机；
● 90KV5微米的X射线源；
● 简单的鼠标点击操作编写检测程序；
● 检测重复精度高；
● 正负60度旋转倾斜，允许*视角检测样；
● 高性能的载物台控制；
● 超大导航视窗-容易定位和识别不良品；
● 自动BGA检测程序准确检测每一个BGA的气泡，根据客户需求进行判定并输出Excel报表。

安全的检测设备：
日联作为一个有着高度社会责任感的X-Ray设备生产商，首要考虑的就是设备的安全性能。日联生产的各系列的X-Ray产品都使用较厚的铅板、铅玻璃以及含铅橡胶，使得产品的X射线量几乎等同于自然界中的辐射量，也*符合FDA认证标准。