天瑞X荧光膜厚测试仪

    天瑞X荧光膜厚测试仪是集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法： 1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005 2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005 3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

铁镀锌镍合金测厚仪测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法 2.美国标准A754/A754M-08 Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

应用行业

1、 电子半导体行业接插件和触点的厚度测量 2、 印刷线路板行业功能镀层厚度测量 3、 贵金属首饰手表行业镀层厚度测量 4、 五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量

参数规格

1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；
2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备全景和部两个工业高清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；

测试实例

在计数率的情况下能分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。

11次测量结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：

测试结论：实验表明，使用电镀膜厚测试仪对镀件膜厚测试，结果度高，速度快（几十秒），其测试精度优于国外仪器。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。

β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。

应用领域
电镀行业
五金卫浴
电子电器
磁性材料
航天新能源
汽车制造
贵金属镀饰......

五金电镀层膜厚仪设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为必须，极大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的精准测试。

硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器，分辨率高达140EV进口的大功率高压，让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮增压，让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。

软件界面
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心

镀层测厚仪主要功能

　　1、测量：单探头全量程测厚，仪器自动补偿偏差值。

　　2、数据管理： 通过分组的方式来管理存储的数据。一共分6组，每组包含99个数据。 可以对任意一组数据进行查看、删除、打印以及通信操作。

　　3、测量模式：包括常规测量模式和监控测量模式两类测量模式。可以在不同的工作现场下给用户提供不同的使用方式，以解决现场的需求。

　　a、常规测量

　　测量时仪器只显示测量数据的基本信息，能够满足用户最基本的测量需要。

　　b、最小值捕捉

　　测量数据时，仪器会自动捕捉到最小的测量值。如果工厂验收以样品的最小厚度值为检验标准的话，那么这种测量模式无疑是选择。

　　c、统计测量

　　在这种模式下，仪器的功能栏里会同时显示出测量数据的值、最小值、平均值、测量次数。给用户提供更加直观和方便的数据分析，进而对现场工件的优劣情况进行实时的观测。

XRF镀层测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。

XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等；功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22（Ti）到92（U）;5 层 （4 镀层 + 基材） / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝首饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；原理：X射线荧光什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特.什么是X射线荧光?X射线荧光 是个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程。