X射线多晶粉末衍射仪

X射线多晶粉末衍射仪X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。

X射线多晶粉末衍射仪是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有操作简便、精度高、检测速度快等特点，为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。

X射线衍射（XRD）是一种理想的、非破坏性的、可应用于大部分类型样品的无损分析方法！
X射线衍射可用于晶相的确定，含量检测以及原子结构的测定。样品用量少，消除了可能产生的样品物相被破坏和性质改变的风险。
在实际应用中，对除X射线衍射外的其他方法，复杂组分样品的测量一直是一个艰巨的挑战。对于X射线衍射，衍射图谱中所有的细节信息都是有价值的，且会被考虑到，并终使样品表征充分。

仪器采用*技术制造，测角仪测角准确度与精确度均达到*水平。光源与探测器能长时间稳定工作，保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析，包括：物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析；薄膜材料分析，小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器（或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器）、数据处理软件、相关应用软件等。

仪器特点
长寿命X射线管：金属陶瓷X射线管，具有散热好、运行功率高（40kV×40mA）、使用寿命长特点
高精密测角仪：衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术，具有定位准确、测量精度高
测角仪内藏式设计，使仪器表现更整洁、美观、大方，在衍射角度测量范围内，衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全：高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用",软件自动识别控制技术，方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠：X射线散射线防护装置更安全可靠，样品测量时射线防护门自动禁止打开，双重防护，任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射

应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析（Rievtveld分析）
非常规条件下晶体变化（高低温）
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析

射线衍射（XRD）分析仪的技术规格