高分辨率薄膜衍射仪 定性分析

高分辨率薄膜衍射仪 定性分析X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。

高分辨率薄膜衍射仪 定性分析是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有操作简便、精度高、检测速度快等特点，为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。

X射线衍射（XRD）是一种理想的、非破坏性的、可应用于大部分类型样品的无损分析方法！
X射线衍射可用于晶相的确定，含量检测以及原子结构的测定。样品用量少，消除了可能产生的样品物相被破坏和性质改变的风险。
在实际应用中，对除X射线衍射外的其他方法，复杂组分样品的测量一直是一个艰巨的挑战。对于X射线衍射，衍射图谱中所有的细节信息都是有价值的，且会被考虑到，并终使样品表征充分。

仪器采用*技术制造，测角仪测角准确度与精确度均达到*水平。光源与探测器能长时间稳定工作，保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析，包括：物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析；薄膜材料分析，小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器（或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器）、数据处理软件、相关应用软件等。

仪器特点
长寿命X射线管：金属陶瓷X射线管，具有散热好、运行功率高（40kV×40mA）、使用寿命长特点
高精密测角仪：衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术，具有定位准确、测量精度高
测角仪内藏式设计，使仪器表现更整洁、美观、大方，在衍射角度测量范围内，衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全：高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用",软件自动识别控制技术，方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠：X射线散射线防护装置更安全可靠，样品测量时射线防护门自动禁止打开，双重防护，任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射

应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析（Rievtveld分析）
非常规条件下晶体变化（高低温）
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析

射线衍射（XRD）分析仪的技术规格